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MC016系列顯微熔點(diǎn)儀

MC016系列（SGW X-4B）

一、SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀應(yīng)用范圍：

   SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀應(yīng)用范圍：測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。

二、SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀技術(shù)參數(shù)：

1、熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫至320℃

2、最小讀數(shù)：0.1℃

3、測(cè)量重復(fù)性：±1℃（在<200℃時(shí)）

          ±2℃（在200～300℃時(shí)）

4、配雙目體視顯微鏡

5、光學(xué)放大倍數(shù)：40X-100X連續(xù)可調(diào)